單晶硅片厚度測量儀

CHY-CA薄膜測厚儀采用機械接觸式測量原理，嚴格按照標準方法進行測量，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

產(chǎn)品特點

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇

可選系統(tǒng)自動進樣，進樣步距、測量點數(shù)和進樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設定

實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷

配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果

5寸觸摸屏操控，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看

標準的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)

單晶硅片厚度測量儀

測試原理

CHY-CA薄膜測厚儀采用機械接觸式測量原理，截取一定尺寸的式樣；通過控制面板按鈕，調(diào)節(jié)測量頭降落于式樣之上；依靠兩個接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過傳感器測得的數(shù)值測量材料的厚度。

測試標準

該儀器符合多項國家和國標標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。

售后服務承諾

三月內(nèi)只換不修，一年質(zhì)保，終身提供。快速處理，1小時內(nèi)響應問題，1個工作日出解決方案。

體系榮譽資質(zhì)

ISO9001：2008質(zhì)量體系認證、計量合格確認證書、CE認證、軟件著作權(quán)、產(chǎn)品實用新型、外觀設計。

實力鑄造品牌